樣品名稱：面向云側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片

檢測項(xiàng)目：全部參數(shù)

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：《人工智能芯片 面向云側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測試指標(biāo)與測試方法》 T/CESA 1119-2020

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 面向云側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片 全部參數(shù) 《人工智能芯片 面向云側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測試指標(biāo)與測試方法》 T/CESA 1119-2020