樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路（模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器）

檢測項(xiàng)目：數(shù)字輸入低電平電流

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：集成電路 A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.15 5.2.14

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器） 數(shù)字輸入低電平電流 集成電路 A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.15 5.2.14