樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路（模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器）

檢測(cè)項(xiàng)目：數(shù)字輸入低電平電壓

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：SJ20961-2006 集成電路 A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器） 數(shù)字輸入低電平電壓 SJ20961-2006 集成電路 A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理