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樣品名稱：瓷介微調(diào)可變電容器0210
檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)部目檢
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 瓷介微調(diào)可變電容器0210 內(nèi)部目檢 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3
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