樣品名稱：多層瓷介（獨(dú)石）電容器

檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)部目檢（對(duì)帶引線有包封層的電容器）

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 多層瓷介（獨(dú)石）電容器 內(nèi)部目檢（對(duì)帶引線有包封層的電容器） 軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006