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樣品名稱:半導體分立器件環境試驗
檢測項目:高溫
認可資質:CNAS
檢測標準:《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997 方法 1031、1032
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體分立器件環境試驗 高溫 《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997 方法 1031、1032
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