國家電子電器產(chǎn)品檢測中心
劉工
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樣品名稱：電子組件失效分析
檢測項(xiàng)目：破壞性分析
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS
檢測標(biāo)準(zhǔn)：電子組件失效分析程序與方法FX01-JE2-5-2010微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548 B-2005
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 電子組件失效分析 破壞性分析 電子組件失效分析程序與方法FX01-JE2-5-2010微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548 B-2005
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