樣品名稱(chēng)：電子組件失效分析

檢測(cè)項(xiàng)目：失效與模式確認(rèn)

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：電子組件失效分析程序與方法FX01-JE2-5-2010微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548 B-2005

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 電子組件失效分析 失效與模式確認(rèn) 電子組件失效分析程序與方法FX01-JE2-5-2010微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548 B-2005