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樣品名稱:半導(dǎo)體光電模塊
檢測項目:鍵合強度
認可資質(zhì):CNAS
檢測標準:軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導(dǎo)體光電模塊 鍵合強度 軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB4027A-2006
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