混合集成 電路中外部目檢檢測

• 樣品名稱：混合集成 電路

• 檢測項目：外部目檢

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006

• 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測 >

• 標(biāo)簽： 外部目檢 混合集成 電路