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樣品名稱:密封半導體集成電路
檢測項目:X射線檢查
認可資質:CNAS CMA
檢測標準:軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006
所屬行業分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >
標簽: X射線檢查 密封半導體集成電路
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