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樣品名稱：電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
檢測(cè)項(xiàng)目：粒子碰撞噪聲檢測(cè)
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法 方法2016外形尺寸 GJB548B-2005
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽： 粒子碰撞噪聲檢測(cè) 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
