您當(dāng)前的位置：首頁 > 中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所元器件檢測中心 > 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件中耐腐蝕試驗檢測
樣品名稱：電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
檢測項目：耐腐蝕試驗
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度 GB/T2423.15-2008
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗 >
標(biāo)簽： 耐腐蝕試驗 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
