您當(dāng)前的位置：首頁 > 中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所元器件檢測(cè)中心 > 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件中沖擊檢測(cè)
樣品名稱：電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
檢測(cè)項(xiàng)目：沖擊
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法1021耐濕 GJB128A-1997
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽： 沖擊 電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件
