半導(dǎo)體集成電路CMOS電路中輸出高阻態(tài)電流IOZ的檢測

檢測項(xiàng)：輸出高阻態(tài)電流IOZ 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 第2節(jié)第7條

檢測機(jī)構(gòu)：國家電子電器產(chǎn)品檢測中心 更多相關(guān)信息>>

數(shù)字集成電路中輸入高電平電壓VIH的檢測

檢測項(xiàng)：輸入高電平電壓VIH 檢測樣品：數(shù)字集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》 SJ/T10741-2000

檢測機(jī)構(gòu)：國家機(jī)械電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心 更多相關(guān)信息>>

西安東風(fēng)儀表廠可靠性試驗(yàn)檢測中心

檢測項(xiàng)：溫度循環(huán) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項(xiàng)：老煉試驗(yàn) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項(xiàng)：粒子碰撞噪聲檢測試驗(yàn) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

武漢中原電子集團(tuán)有限公司計(jì)量檢測中心

檢測項(xiàng)：輸入失調(diào)電流 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測項(xiàng)：輸入偏置電流 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測項(xiàng)：開環(huán)電壓增益 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計(jì)量測試技術(shù)研究所

檢測項(xiàng)：輸出高電平電源電流ICCH 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路CMOS 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

檢測項(xiàng)：輸出低電平電源電流ICCL 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路CMOS 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

檢測項(xiàng)：輸出高電平電壓VOH 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路CMOS 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計(jì)量測試研究所

檢測項(xiàng)：電源電流ICC 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

檢測項(xiàng)：輸出高電平電源電流ICCH 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

檢測項(xiàng)：輸出低電平電源電流ICCL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

湖北航天技術(shù)研究院計(jì)量測試技術(shù)研究所

檢測項(xiàng)：靜態(tài)參數(shù) 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測項(xiàng)：動態(tài)參數(shù) 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測項(xiàng)：功能 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省孝感市 更多相關(guān)信息>>

西南技術(shù)物理研究所檢測校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：輸出高電平電壓 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測項(xiàng)：輸出低電平電壓 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

檢測項(xiàng)：輸入電流 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

北京青云航空儀表有限公司理化計(jì)量中心

檢測項(xiàng)：輸入低電平電壓VIL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-2000

檢測項(xiàng)：輸入正向閾值電壓VIT+ 檢測樣品：半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-2000

檢測項(xiàng)：輸出高電平電壓VOH 檢測樣品：半導(dǎo)體集成 電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理SJ/T10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

西南計(jì)算機(jī)有限責(zé)任公司檢測計(jì)量與軟件測評中心

檢測項(xiàng)：輸出高電平電壓 檢測樣品：CMOS集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項(xiàng)：輸出低電平電壓 檢測樣品：CMOS集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項(xiàng)：輸入電流 檢測樣品：CMOS集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：重慶市 更多相關(guān)信息>>