樣品名稱：單光子發(fā)射及X射線計(jì)算機(jī)斷層成像系統(tǒng)

檢測(cè)項(xiàng)目：衰減校正

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：用于SPECT成像CT衰減校正的試驗(yàn)方法 YY/T 1546-2017 3.1

服務(wù)地點(diǎn)：上海市 嘉定區(qū)

適用范圍：醫(yī)療器械

標(biāo)簽： 單光子發(fā)射及X射線計(jì)算機(jī)斷層成像系統(tǒng) 衰減校正 用于SPECT成像CT衰減校正的試驗(yàn)方法 YY/T 1546-2017 3.1