樣品名稱：X射線計算機體層攝影設(shè)備

檢測項目：試驗方法

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：X射線計算機體層攝影設(shè)備圖像質(zhì)量評價方法 第2部分：低對比度分辨率評價 YY/T1766.2-2021 5.2

服務(wù)地點：上海市 嘉定區(qū)

適用范圍：醫(yī)療器械

標(biāo)簽： X射線計算機體層攝影設(shè)備 試驗方法 X射線計算機體層攝影設(shè)備圖像質(zhì)量評價方法 第2部分：低對比度分辨率評價 YY/T1766.2-2021 5.2