國家機(jī)械電子產(chǎn)品環(huán)境與可靠性質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心
劉經(jīng)理
政府測試機(jī)構(gòu)（質(zhì)檢、商檢、海關(guān)、
樣品名稱：電子元器件
檢測項(xiàng)目：掃描電子顯微鏡(SEM)檢查
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS
檢測標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法》 GJB3233-1998
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 電子元器件 掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 《半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法》 GJB3233-1998
