樣品名稱：微電子器件

檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)部氣氛分析

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-1580B-2014GJB4027B-2021 電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析 軍用電子元器件破壞性物理分析方法

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 微電子器件 內(nèi)部氣氛分析 MIL-STD-1580B-2014GJB4027B-2021 電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析 軍用電子元器件破壞性物理分析方法