國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
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樣品名稱：塑封微電子器件
檢測(cè)項(xiàng)目：外部目檢
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GJB4027B-2021 軍用電子元器件破壞性物理分析方法
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 塑封微電子器件 外部目檢 GJB4027B-2021 軍用電子元器件破壞性物理分析方法
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