樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器電路

檢測(cè)項(xiàng)目：存儲(chǔ)器的特定時(shí)間

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T17574-1998第Ⅳ章/3節(jié)/4.6 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器電路 存儲(chǔ)器的特定時(shí)間 GB/T17574-1998第Ⅳ章/3節(jié)/4.6 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路