樣品名稱(chēng)：單晶硅

檢測(cè)項(xiàng)目：硼（B）、磷（P）、鋁（Al）,銻（Sb）、鎵（Ga）,砷（As）

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：硅單晶中Ⅲ、V族雜質(zhì)含量的測(cè)定 低溫傅立葉變換紅外光譜法 GB/T 24581-2022

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 單晶硅 硼（B）、磷（P）、鋁（Al）,銻（Sb）、鎵（Ga）,砷（As） 硅單晶中Ⅲ、V族雜質(zhì)含量的測(cè)定 低溫傅立葉變換紅外光譜法 GB/T 24581-2022