樣品名稱：半導(dǎo)體光電模塊

檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)部目檢

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目 1202

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體光電模塊 內(nèi)部目檢 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目 1202