樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器

檢測項(xiàng)目：輸出低電平電壓VOL

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 方法37

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器 輸出低電平電壓VOL 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 方法37