樣品名稱：半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片

檢測(cè)項(xiàng)目：色差

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片測(cè)試方法 SJ/T 11399-2009 8.4

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片 色差 半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片測(cè)試方法 SJ/T 11399-2009 8.4