樣品名稱：電子元件、半導(dǎo)體分立器件

檢測(cè)項(xiàng)目：溫度沖擊試驗(yàn)

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128B-2021 方法 1051

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 電子元件、半導(dǎo)體分立器件 溫度沖擊試驗(yàn) 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128B-2021 方法 1051