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樣品名稱:半導體電子元器件
檢測項目:間歇老化
認可資質(zhì):其它
檢測標準:半導體器件的環(huán)境試驗方法 第1部分:測試方法 方法1037 間歇工作壽命(抽樣方案) MIL-STD-750F-2012 方法 1037
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體電子元器件 間歇老化 半導體器件的環(huán)境試驗方法 第1部分:測試方法 方法1037 間歇工作壽命(抽樣方案) MIL-STD-750F-2012 方法 1037
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