樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路和元器件

檢測(cè)項(xiàng)目：高加速應(yīng)力試驗(yàn)（無偏置）

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：加速耐濕性-無偏置高加速應(yīng)力試驗(yàn) JESD22-A118B.01-2021

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路和元器件 高加速應(yīng)力試驗(yàn)（無偏置） 加速耐濕性-無偏置高加速應(yīng)力試驗(yàn) JESD22-A118B.01-2021