樣品名稱：半導體器件

檢測項目：強加速穩(wěn)態(tài)濕熱

認可資質：其它

檢測標準：半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗（HAST） GB/T 4937.4-2012/IEC 60749-4:2002

服務地點：全國

適用范圍：電子電氣

標簽： 半導體器件 強加速穩(wěn)態(tài)濕熱 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗（HAST） GB/T 4937.4-2012/IEC 60749-4:2002