樣品名稱：半導體器件

檢測項目：溫度、偏置、壽命試驗

認可資質：其它

檢測標準：半導體器件 分立器件 第9部分：絕緣柵雙極晶體管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1

服務地點：全國

適用范圍：電子電氣

標簽： 半導體器件 溫度、偏置、壽命試驗 半導體器件 分立器件 第9部分：絕緣柵雙極晶體管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1