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劉工
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樣品名稱:半導體器件
檢測項目:高溫工作壽命
認可資質:其它
檢測標準:半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第 23 部分:高溫工作壽命 IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體器件 高溫工作壽命 半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第 23 部分:高溫工作壽命 IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
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