樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路-CMOS電路

檢測(cè)項(xiàng)目：輸出由高電平到低電平傳輸延遲時(shí)間(tPHL)

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第3節(jié) 方法4.1.2

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路-CMOS電路 輸出由高電平到低電平傳輸延遲時(shí)間(tPHL) 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第3節(jié) 方法4.1.2