樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)

檢測(cè)項(xiàng)目：導(dǎo)通電阻路差△Ron

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 GB/T 14028-2018 /5.3

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān) 導(dǎo)通電阻路差△Ron 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 GB/T 14028-2018 /5.3