樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路

檢測項(xiàng)目：輸入低電平電流IIL

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 /第IV篇 第2節(jié)2

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路 輸入低電平電流IIL 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 /第IV篇 第2節(jié)2