樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路

檢測項(xiàng)目：建立時間、保持時間

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第IV篇第3節(jié) 4

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路 建立時間、保持時間 半導(dǎo)體集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第IV篇第3節(jié) 4