樣品名稱：半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器

檢測(cè)項(xiàng)目：延遲時(shí)間

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測(cè)試方法 第3節(jié) 4.2

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器 延遲時(shí)間 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測(cè)試方法 第3節(jié) 4.2