樣品名稱：半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器
檢測(cè)項(xiàng)目：輸入高電平電流IIH
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測(cè)試方法 第2節(jié) 2
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器 輸入高電平電流IIH 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測(cè)試方法 第2節(jié) 2