樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路TTL電路

檢測項目：輸出由高電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間t_PHZ

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 3.8

服務(wù)地點：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路TTL電路 輸出由高電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間t_PHZ 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 3.8