樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路TTL電路

檢測(cè)項(xiàng)目：輸出低電平電壓V_OL

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.5

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路TTL電路 輸出低電平電壓V_OL 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.5