樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路

檢測(cè)項(xiàng)目：功能測(cè)試

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第3節(jié)第6條

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路 功能測(cè)試 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第3節(jié)第6條