樣品名稱：半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器

檢測(cè)項(xiàng)目：輸出高電平電壓VOH

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲(chǔ)器測(cè)試方法 GB/T 36477-2018 5.1

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器 輸出高電平電壓VOH 半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲(chǔ)器測(cè)試方法 GB/T 36477-2018 5.1