樣品名稱：集成電路-超高頻射頻識(shí)別芯片

檢測(cè)項(xiàng)目：高溫讀寫(xiě)＋保存數(shù)據(jù)退化檢測(cè)

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 15 部分： 超高頻射頻識(shí)別 T/CIE 080—2020 5.8.5

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 集成電路-超高頻射頻識(shí)別芯片 高溫讀寫(xiě)＋保存數(shù)據(jù)退化檢測(cè) 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 15 部分： 超高頻射頻識(shí)別 T/CIE 080—2020 5.8.5