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國家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
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樣品名稱：半導(dǎo)體分立器件（失效分析）
檢測(cè)項(xiàng)目：芯片剪切強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GJB3157-1998 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 半導(dǎo)體分立器件（失效分析） 芯片剪切強(qiáng)度 GJB3157-1998 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序
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