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樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路（失效分析）
檢測(cè)項(xiàng)目：殼內(nèi)氣氛分析
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（失效分析） 殼內(nèi)氣氛分析 GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序
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