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劉工
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樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路（失效分析）
檢測項(xiàng)目：電參數(shù)測試
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測標(biāo)準(zhǔn)：GJB3233-1998 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（失效分析） 電參數(shù)測試 GJB3233-1998 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法
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