樣品名稱：電子元器件及設(shè)備(氣候)

檢測(cè)項(xiàng)目：高溫試驗(yàn)

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GJB150.3-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 電子元器件及設(shè)備(氣候) 高溫試驗(yàn) GJB150.3-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)