樣品名稱：電子元器件及設(shè)備（機(jī)械性能）

檢測(cè)項(xiàng)目：機(jī)械沖擊

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：SJ21270-2018 微波組件沖擊響應(yīng)譜試驗(yàn)方法

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 電子元器件及設(shè)備（機(jī)械性能） 機(jī)械沖擊 SJ21270-2018 微波組件沖擊響應(yīng)譜試驗(yàn)方法