樣品名稱：集成電路-高頻射頻識(shí)別芯片

檢測(cè)項(xiàng)目：靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測(cè)

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：T/CIE081—2020 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 16 部分： 高頻射頻識(shí)別

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 集成電路-高頻射頻識(shí)別芯片 靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測(cè) T/CIE081—2020 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 16 部分： 高頻射頻識(shí)別