樣品名稱：光耦合器

檢測(cè)項(xiàng)目：發(fā)射極-基極擊穿電壓

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管 GB/T 4587-1994 第IV第1節(jié)10.2

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 光耦合器 發(fā)射極-基極擊穿電壓 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管 GB/T 4587-1994 第IV第1節(jié)10.2