樣品名稱：通用電子元器件（破壞性物理分析）

檢測項(xiàng)目：外部目檢

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：各種質(zhì)量等級軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 GJB 5914-2006 4.3.2

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 通用電子元器件（破壞性物理分析） 外部目檢 各種質(zhì)量等級軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 GJB 5914-2006 4.3.2